전해 커패시터가 다른 부품보다 잘 고장 나는 이유는 무엇인가요?

전해 커패시터는 내부에 액체 전해액이 들어 있는 유일한 부품입니다. 시간이 지나면 전해액이 고무 마개를 통해 서서히 증발하며 용량이 감소하고 ESR(등가직렬저항)이 상승합니다. 이로 인해 발생하는 열이 다시 증발을 가속하는 악순환이 반복되어 고장이 잦습니다.

온도가 전해 커패시터 수명에 어떤 영향을 미치나요?

아레니우스 법칙에 따라 주변 온도가 10℃ 상승할 때마다 커패시터의 수명은 절반으로 줄어듭니다. 따라서 전원부나 방열판 옆처럼 온도가 높은 곳에 위치한 커패시터가 훨씬 빠르게 수명을 다하게 됩니다.

전해 커패시터의 팽창이나 누액을 육안으로 확인하는 방법은 무엇인가요?

주요 증상으로는 상단 벤트(K, Y, 十자 홈)가 볼록하게 솟아오른 경우, 하단 고무 마개 압력으로 인해 부품이 기판에서 기울어져 있는 경우, 그리고 다리 주변에 갈색이나 검은색 액체 자국이 묻어 있는 경우 등이 있습니다.

커패시터 역병(Capacitor Plague)이란 무엇인가요?

2000년대 초중반 일부 제조사의 전해액 배합 문제로 인해 메인보드 등의 커패시터가 대량으로 고장 났던 현상을 말합니다. 해당 시기에 생산된 제품은 겉모습이 멀쩡해 보여도 전량 교체하는 것이 권장됩니다.

전해 커패시터 팽창·누액 증상 5가지와 안전한 교체 방법

후즈대디 2026년 9월 7일 최종 수정 10월 14일 읽는 시간 약 22분

전자제품 고장의 흔한 원인 중 하나가 전해 커패시터(전해 콘덴서)입니다. 부품값은 몇백 원인데, 이 부품 하나를 못 찾아 멀쩡한 보드를 통째로 버리게 되기도 합니다. 팽창과 누액이 어떤 모습으로 나타나는지, 겉이 멀쩡한 불량은 어떻게 걸러내는지, 그리고 패턴 손상 없이 교체하는 순서를 정리했습니다. 중간에는 주변 온도에 따른 수명을 니치콘 기술 자료의 식으로 직접 계산한 그래프와, ESR이 오른 커패시터가 스위칭 전원의 출력 리플을 얼마나 키우는지 ngspice로 직접 시뮬레이션한 그래프를 넣었습니다.

전해 커패시터는 왜 유독 잘 고장날까

전해 커패시터는 기판 위 부품 가운데 드물게 내부에 액체 전해액이 들어 있는 부품입니다. 저항이나 IC와 달리 시간이 지나면 이 액체가 고무 마개를 통해 서서히 증발합니다. 전해액이 줄면 용량이 떨어지고 ESR(등가직렬저항)이 올라가며, 올라간 ESR이 다시 열을 만들어 증발을 가속하는 악순환에 들어갑니다.

여기에 온도가 크게 작용합니다. 니치콘의 알루미늄 전해 커패시터 기술 자료(TECHNICAL NOTES CAT.8101H)는 40℃부터 부품의 최고 사용 온도 사이에서는 아레니우스 법칙에 따라 온도가 10℃ 내려갈 때마다 수명이 두 배로 늘어난다고 설명합니다. 거꾸로 말하면 10℃ 오를 때마다 절반이 됩니다. 다만 이 규칙은 정격 온도 안에서만 쓰는 식이라, 85℃ 정격 부품을 그보다 뜨거운 곳에서 쓰는 경우에는 적용하지 않습니다.

직접 계산: 주변 온도에 따라 전해 커패시터 수명은 얼마나 달라지나

같은 1000µF 16V라도 시리즈마다 정격 온도와 정격 수명이 다릅니다. 니치콘 데이터시트에 적힌 정격 수명을 기준으로, 주변 온도에 따른 추정 수명을 10℃ 규칙 L = L₀ × 2^{(T₀−T)/10}로 직접 계산했습니다.

니치콘 1000µF 16V 전해 커패시터 UVR 85℃ 2000시간, UVZ 105℃ 2000시간, UPW 105℃ 5000시간, UHE 105℃ 10000시간 시리즈의 주변 온도 45~105℃별 추정 수명을 10℃ 규칙으로 계산한 그래프 — 직접 계산: 니치콘 1000µF 16V 4개 시리즈의 정격 수명을 10℃ 규칙에 넣은 주변 온도별 추정 수명. 점은 주변 65℃일 때 값.

L₀와 T₀는 각 데이터시트(니치콘 CAT.8100M)의 정격입니다. UVR1C102MPD(10×16mm)는 85℃ 2000시간, UVZ1C102MPD(10×16mm)는 105℃ 2000시간, UPW1C102MPD(10×20mm)는 105℃ 5000시간, UHE1C102MHD6(12.5×15mm)은 105℃ 10000시간입니다. UVR·UVZ는 정격 전압만 걸어 시험한 값이고 UPW·UHE는 정격 리플 전류까지 함께 흘린 값이라 시험 조건이 완전히 같지는 않습니다. 니치콘 자료는 이 식을 40℃부터 최고 사용 온도 사이에만 쓰고, 계산 결과가 아무리 길게 나와도 15년 정도를 상한으로 본다고 적고 있어 표에도 그렇게 표시했습니다. 여기서 말하는 수명 끝은 데이터시트의 내구성 판정 기준을 벗어나는 시점(UPW는 용량 변화 ±20% 이내, tan δ 초기 규격값의 200% 이하 등)이고, 기기가 멈추는 시점과 같은 뜻은 아닙니다.

주변 온도(직접 계산)	UVR 85℃ 2000시간	UVZ 105℃ 2000시간	UPW 105℃ 5000시간	UHE 105℃ 10000시간
45℃	32,000시간(3.7년)	128,000시간(14.6년)	320,000시간(15년 상한)	640,000시간(15년 상한)
55℃	16,000시간(1.8년)	64,000시간(7.3년)	160,000시간(15년 상한)	320,000시간(15년 상한)
65℃	8,000시간(0.9년)	32,000시간(3.7년)	80,000시간(9.1년)	160,000시간(15년 상한)
75℃	4,000시간(0.5년)	16,000시간(1.8년)	40,000시간(4.6년)	80,000시간(9.1년)
85℃	2,000시간(0.2년)	8,000시간(0.9년)	20,000시간(2.3년)	40,000시간(4.6년)
95℃	정격 초과(적용 안 함)	4,000시간(0.5년)	10,000시간(1.1년)	20,000시간(2.3년)
105℃	정격 초과(적용 안 함)	2,000시간(0.2년)	5,000시간(0.6년)	10,000시간(1.1년)

괄호 안은 24시간 켜 두는 기기 기준 햇수입니다. 직접 계산하면 주변 65℃에서 85℃ 2000시간 품(UVR)은 8,000시간, 약 0.9년입니다. 같은 2000시간이라도 105℃ 품(UVZ)은 32,000시간(약 3.7년)으로 4배이고, 105℃ 5000시간 품(UPW)은 80,000시간(약 9.1년)입니다. 같은 UPW라도 방열판 옆이라 주변 온도가 65℃에서 75℃로 10℃만 올라가면 추정 수명은 40,000시간으로 절반이 됩니다. 전원부처럼 뜨거운 자리, 방열판이나 트랜스 옆자리, 통풍이 안 되는 케이스 안쪽 커패시터를 먼저 의심하는 이유이고, 교체할 때 정격 온도와 정격 수명이 높은 시리즈를 고르라는 아래 4단계의 근거이기도 합니다.

이 계산은 주변 온도만 바꾼 단순 추정입니다. 실제 수명은 걸린 전압, 리플 전류에 의한 자체 발열(아래 시뮬레이션에서 따로 계산했습니다), 부품마다의 차이에 따라 달라집니다. 커패시터 주변 온도는 기기 안의 공기 온도라 실내 온도보다 높을 수 있으므로, 수명을 따질 때는 실제 부품 온도를 재 보는 편이 정확합니다.

참고로 2000년대 초중반 메인보드가 무더기로 죽었던 이른바 커패시터 역병(Capacitor Plague)은 일부 제조사의 전해액 배합 문제로 알려져 있습니다. 그 시기 제품을 지금 수리한다면 겉이 멀쩡해도 같은 계열 커패시터를 ESR로 함께 점검하고, 되도록 함께 교체하는 편이 안전합니다.

육안으로 확인하는 팽창·누액 증상

기판을 열었을 때 이 다섯 가지를 순서대로 봅니다.

상단 벤트가 부풀어 있다 — 캔 윗면의 K자, Y자, 十자 홈은 내부 압력이 높아졌을 때 터지도록 만든 안전 밸브입니다. 이 부분이 볼록하게 솟았다면 내부에서 가스가 발생했다는 뜻이므로 측정 결과와 관계없이 교체 대상입니다.
기판에서 부품이 기울어져 있다 — 하단 고무 마개가 압력에 밀려나면 부품이 기판에서 살짝 뜹니다. 옆에서 봤을 때 혼자 삐딱한 콘덴서는 아래쪽 누액을 의심합니다.
갈색이나 검은 액체 자국 — 다리 주변이나 기판 표면에 번진 자국. 마르면 딱지처럼 굳습니다.
다리 주변의 흰색·회색 결정 — 누액이 마르며 남은 침전물입니다. 이 상태면 주변 패턴이 이미 부식되기 시작했을 수 있습니다.
냄새 — 전해액에는 특유의 비린내가 있습니다. 뚜껑을 열자마자 이 냄새가 난다면 눈으로 바로 못 찾았더라도 누액을 의심하고 더 찾아봅니다.

누액이 확인되면 부품 교체만으로 끝내지 말고 기판 부식 여부를 함께 봐야 합니다. 전해액은 약산성이라 동박과 인접 부품의 다리를 갉아먹습니다. 이소프로필알코올로 깨끗이 닦고, 패턴이 끊겼는지 확대해서 확인하세요.

제품 증상으로 보는 의심 위치

전원이 아예 안 들어옴 — 1차측 대용량 평활 콘덴서 불량
켜졌다 꺼졌다를 반복(부팅 루프) — 2차측 출력 콘덴서 용량 저하로 전압이 유지되지 않음
처음엔 안 켜지다가 한참 뒤에 켜짐 — 열을 받아야 동작하는 경우로, 커패시터 열화를 의심할 수 있는 증상. 전해 커패시터는 온도가 낮을수록 임피던스가 커서, 니치콘 UPW1C102MPD 데이터시트도 100kHz 임피던스 최대값을 20℃ 0.052Ω, −10℃ 0.104Ω로 적고 있습니다.
화면이 깜빡이거나 가로줄 노이즈 — 영상 회로 전원 필터 콘덴서 불량
스피커에서 웅~ 하는 험 노이즈 — 리플이 걸러지지 않고 그대로 넘어오는 상태
사용 중 무작위 재부팅 — 부하가 걸릴 때만 전압이 무너짐

겉은 멀쩡한데 불량인 경우 판별법

겉이 멀쩡한데 불량인 커패시터도 있습니다. 멀티미터의 정전용량 모드로 용량만 재면 정상 범위로 나오는데 ESR이 올라가 있는 경우로, 이런 부품은 ESR을 따로 재야 걸러집니다. 정전용량 모드로 재는 방법은 멀티미터 부품 점검 글의 커패시터 측정에 정리했으니, 여기서는 용량 측정만으로는 왜 놓치는지를 시뮬레이션으로 보여 드립니다. ESR 미터는 기판에 붙은 상태로도 측정(인서킷)할 수 있어 시간을 줄여 주지만, 병렬로 붙은 다른 커패시터가 있으면 값이 낮게 나올 수 있으므로 의심 부품은 떼어 내 다시 확인합니다.

직접 시뮬레이션: 용량은 정상인데 ESR만 오른 커패시터는 리플을 얼마나 키우나

스위칭 전원 출력단의 커패시터는 인덕터에서 오는 삼각파 리플 전류를 받아 냅니다. 이때 출력에 남는 리플 전압이 용량(µF)과 ESR 중 어느 쪽에 더 좌우되는지 보려고, 12V를 5V로 낮추는 벅 컨버터 출력단을 ngspice로 직접 시뮬레이션했습니다.

12V에서 5V로 낮추는 벅 컨버터 출력단에서 출력 커패시터가 새 부품일 때, 용량이 절반일 때, ESR이 3배일 때, ESR 10배에 용량 −20%일 때 출력 리플 파형과 리플 크기를 비교한 ngspice 시뮬레이션 그래프 — 직접 시뮬레이션(ngspice): 12V→5V 벅 출력단(3A, 100kHz)에서 출력 커패시터 상태별 출력 리플. 새 부품 ESR은 니치콘 UPW1C102MPD 데이터시트의 임피던스 최대값, 열화 배수는 가정.

조건은 입력 12V, 출력 5V, 부하 3A(1.6667Ω 저항), 스위칭 주파수 100kHz, 인덕터 22µH입니다. 스위치는 듀티 5/12의 이상적인 12V 구형파로 두고 제어 루프 없이 계산했습니다. 출력 커패시터는 니치콘 UPW 시리즈 1000µF 16V(UPW1C102MPD, 10×20mm)를 기준으로 하고, 데이터시트의 임피던스 최대값 0.052Ω(20℃, 100kHz)을 새 부품의 ESR로 넣었습니다. 이 값은 새 부품이 넘지 않아야 할 최대 한계값이라 실제 새 부품은 이보다 낮을 수 있습니다. 열화 상태는 용량만 절반으로 준 경우, 용량은 그대로이고 ESR만 3배가 된 경우, ESR 10배에 용량 −20%인 경우를 가정했습니다.

항목	새 부품	용량 −50%	ESR ×3	ESR ×10·용량 −20%
용량계에 나오는 값(가정)	1000µF	500µF	1000µF	800µF
ESR(가정)	52mΩ	52mΩ	156mΩ	520mΩ
출력 리플 p-p(직접 시뮬레이션)	66.8mV	66.8mV	188.9mV	524.6mV
5V 대비 리플(직접 계산)	1.3%	1.3%	3.8%	10.5%
커패시터 리플 전류 실효값(직접 시뮬레이션)	0.371A	0.371A	0.350A	0.292A
ESR 손실 I²×ESR(직접 계산)	7.2mW	7.2mW	19.1mW	44.2mW
내부 온도 상승, 이 회로(직접 계산)	0.48℃	0.48℃	1.29℃	2.98℃
내부 온도 상승, 정격 리플 1.22A를 흘린다면(직접 계산)	5.2℃	5.2℃	15.6℃	52.1℃

시뮬레이션 결과 새 부품의 출력 리플은 66.8mV였고, 용량이 절반(500µF)으로 줄어도 66.8mV로 거의 그대로였습니다. 반면 용량은 그대로인데 ESR만 3배가 되면 188.9mV, ESR 10배에 용량 −20%면 524.6mV로 새 부품의 7.9배가 됐습니다. 100kHz에서는 1000µF의 리액턴스가 아주 작아서 리플이 주로 ESR에서 생기기 때문입니다. 근사식으로 직접 계산해도 시뮬레이션의 인덕터 리플 전류 1.32A(p-p)에서 새 부품의 ESR 성분은 ΔI×ESR = 68.9mV, 용량 성분은 ΔI÷(8fC) = 1.66mV입니다.

진단에서 중요한 점은 여기입니다. ESR 3배 부품은 용량이 1000µF 그대로라 용량계로는 새 부품과 구분되지 않고, ESR 10배 부품도 용량계에는 800µF, 표기값 대비 −20%로 경계선에 걸치는 정도로만 보입니다. 그런데 출력 리플은 각각 188.9mV, 524.6mV로 커지고, ESR 10배에서는 출력 최저 전압이 4.74V까지 내려갑니다. 위에서 말한 무작위 재부팅이나 노이즈 같은 증상이 이런 리플에서 시작될 수 있습니다. 그래서 겉이 멀쩡하고 용량도 정상으로 나오는데 증상이 있다면 ESR 미터로 ESR을 따로 잽니다.

ESR이 오르면 발열도 늘어납니다. 니치콘 기술 자료의 식(내부 온도 상승 Δt = I²×ESR ÷ (β×A), 지름 10mm 캔의 방열 상수 β = 2.10×10⁻³W/℃·cm², 10×20mm 캔의 표면적 A = 7.069cm²)으로 직접 계산하면, 이 회로의 리플 전류에서는 새 부품 0.48℃, ESR 3배 1.29℃, ESR 10배 2.98℃ 상승으로 크지 않습니다. 하지만 데이터시트의 정격 리플 전류 1.22A(105℃, 100kHz)에 가깝게 흘리는 설계라면 새 부품 5.2℃에서 ESR 3배면 15.6℃로 올라, 앞의 10℃ 규칙을 그대로 적용한 단순 계산으로 수명이 새 부품의 0.49배로 줄어듭니다. ESR 10배면 52.1℃ 상승으로 10℃ 규칙을 적용할 범위를 벗어납니다. 올라간 ESR이 열을 만들고 열이 다시 전해액 증발을 앞당기는, 앞에서 말한 악순환을 숫자로 본 것입니다.

이 시뮬레이션은 제어 루프가 없는 이상적인 회로입니다. 실제 전원은 제어 루프가 리플 일부에 반응하고, ESR이 바뀌면 루프의 안정성에도 영향을 줄 수 있습니다. 인덕터의 저항, 커패시터의 ESL(리드 인덕턴스), 온도에 따른 ESR 변화는 넣지 않았고, 저항 부하라서 리플의 일부가 부하로도 흘러 ESR이 큰 경우 커패시터 전류가 조금 줄어듭니다. 리플 발열 계산은 니치콘 식 가운데 기본 식만 쓰고 수명 환산에 10℃ 규칙을 그대로 적용한 단순화라, 니치콘이 리플 발열에 따로 쓰는 계수까지 넣은 값과는 다를 수 있습니다. 또 용량 감소는 100kHz 리플에는 거의 드러나지 않았지만, 120Hz 리플을 거르는 1차측 평활 커패시터나 부하가 갑자기 바뀌는 순간에는 영향이 드러날 수 있습니다. 시뮬레이션에 쓴 넷리스트입니다.

* Buck output stage 12V -> 5V, 3A load, 100kHz, L 22uH: new vs aged output capacitor
* Switch node = ideal 12V square wave (ideal synchronous buck, open loop, duty 5/12)
* Cap: Nichicon UPW1C102MPD 1000uF 16V 10x20, impedance max 0.052 ohm (20C/100kHz) used as ESR
* A: new 1000uF/52m  B: capacitance -50% 500uF/52m  C: ESR x3 1000uF/156m  D: ESR x10 + capacitance -20% 800uF/520m
Vsw sw 0 PULSE(0 12 0 10n 10n 4.1567u 10u)
* --- A
LA sw oa 22u IC=2.3367
VmA oa xa 0
RA xa ca 0.052
CA ca 0 1000u IC=5
RLA oa 0 1.6667
* --- B
LB sw ob 22u IC=2.3367
VmB ob xb 0
RB xb cb 0.052
CB cb 0 500u IC=5
RLB ob 0 1.6667
* --- C
LC sw oc 22u IC=2.3367
VmC oc xc 0
RC xc cc 0.156
CC cc 0 1000u IC=5
RLC oc 0 1.6667
* --- D
LD sw od 22u IC=2.3367
VmD od xd 0
RD xd cd 0.52
CD cd 0 800u IC=5
RLD od 0 1.6667
.tran 10n 30m 29.9m 10n uic
.meas tran vpp_a PP v(oa) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vpp_b PP v(ob) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vpp_c PP v(oc) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vpp_d PP v(od) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vavg_a AVG v(oa) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vavg_b AVG v(ob) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vavg_c AVG v(oc) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vavg_d AVG v(od) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran icrms_a RMS i(VmA) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran icrms_b RMS i(VmB) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran icrms_c RMS i(VmC) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran icrms_d RMS i(VmD) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran ilpp_a PP i(LA) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran ilavg_a AVG i(LA) FROM=29.9m TO=30m
.meas tran vavg_sw AVG v(sw) FROM=29.9m TO=30m

판정 항목	교체·의심 기준(참고)
정전용량	표기값 대비 −20% 이상 감소
ESR	데이터시트의 임피던스(ESR) 최대값을 넘음, 또는 같은 회로의 동일 부품보다 뚜렷이 높음
표면 온도	같은 회로의 동일 부품보다 뚜렷이 뜨거움
연식·위치	오래 쓴 기기의 전원부·방열판 근처 부품은 먼저 점검(교체 판정이 아니라 점검 순서)

표의 −20%는 니치콘 UPW 데이터시트가 정격 수명 시험 뒤의 합격 기준으로 적은 ‘용량 변화 ±20% 이내’와 같은 경계입니다. 같은 기준에서 tan δ(120Hz 손실각)는 초기 규격값의 200% 이하인데, ESR 미터처럼 100kHz 같은 높은 주파수에서 잰 ESR과는 측정 조건이 달라 그대로 맞대어 비교하지는 않습니다. 데이터시트 표의 임피던스는 새 부품이 넘지 않아야 할 최대값(UPW1C102MPD는 20℃, 100kHz에서 0.052Ω)이므로 새 부품은 이 값 이하로 나오는 것이 정상이고, 기판이 차가우면 높게 나오므로 같은 온도에서 비교합니다. 표면 온도 비교는 열화상 카메라로 발열 부품 찾기처럼 열화상으로 보면 빠릅니다.

기준값 표가 없다면 같은 기판 위 동일 규격 부품끼리 비교하는 방법이 실용적입니다. 네 개 중 하나만 ESR이 튄다면 그 부품을 먼저 의심합니다.

전해 커패시터 교체 방법

1단계 · 방전과 안전 확보

전원을 뽑아도 1차측 대용량 콘덴서에는 수백 볼트가 남아 있을 수 있습니다. 드라이버로 단자를 단락시키는 방법은 스파크와 접점 손상을 일으킬 수 있으니 쓰지 마세요. 1kΩ 이상, 5W급 저항의 양단을 리드선에 물려 콘덴서 양극에 30초가량 대어 방전합니다. 저항값에 따라 전압이 얼마나 빨리 떨어지는지, 드라이버 단락 때 순간 전류가 얼마나 되는지는 브리지 정류기 글의 방전 시간 계산에 직접 계산해 두었습니다. 방전 후 멀티미터로 DC 전압이 1V 이하인지 반드시 확인하고 작업에 들어갑니다.

2단계 · 극성과 위치 기록

탈거 전에 스마트폰으로 기판 사진을 반드시 찍어둡니다. 전해 커패시터는 캔 옆면의 색 띠(보통 흰 띠)가 음극(−)이고, 기판에는 반원 음영이나 사각 패드로 극성이 표시돼 있습니다. 극성을 반대로 꽂으면 통전 후 내부에서 가스가 생겨 벤트가 열리거나 파열할 수 있습니다. 과장이 아니니 꽂기 전에 꼭 다시 확인합니다.

3단계 · 기존 부품 제거

인두 온도는 320~350℃, 한 패드당 3~4초 이내가 원칙입니다. 오래 지지면 패드가 기판에서 떨어져 나갑니다. 다리가 두 개뿐이므로 양쪽을 번갈아 가열하며 조금씩 흔들어 빼거나, 납 흡입기·솔더윅으로 납을 완전히 제거한 뒤 뽑습니다. 비틀어 뽑는 것은 금물입니다. 스루홀 도금이 함께 뜯겨 나갈 수 있습니다.

요령 하나. 최근 기판은 무연납(융점 약 217℃)이라 잘 안 녹습니다. 이때 유연납을 소량 추가로 녹여 섞으면 융점이 내려가 훨씬 수월하게 빠집니다.

4단계 · 대체 부품 선택

용량(µF) — 동일값 원칙. 임의로 올리면 돌입전류가 커져 퓨즈나 NTC에 무리가 갈 수 있습니다.
정격전압(V) — 같거나 높게. 16V 자리에 25V는 괜찮지만, 크기가 커져 안 들어갈 수 있으니 확인하세요.
내열 온도 — 105℃품을 권합니다. 위 계산처럼 같은 2000시간 정격이라도 105℃ 품은 같은 주변 온도에서 85℃ 품의 4배 수명으로 추정됩니다. 방열판 근처처럼 뜨거운 자리라면 같은 105℃라도 정격 수명이 긴(5000~10000시간급) 시리즈를 고르는 편이 낫습니다.
Low ESR 여부 — 스위칭 전원부에는 Low ESR 전용품을 씁니다. 위 시뮬레이션처럼 출력 리플이 ESR에 따라 커지고 ESR 손실은 발열이 되기 때문입니다. 원래 부품의 데이터시트를 찾아 100kHz 임피던스와 정격 리플 전류가 같거나 나은 부품을 고릅니다.
브랜드 — 니치콘, 루비콘, 파나소닉, 삼영 등 검증된 제조사를 권합니다. 데이터시트(정격 수명, 임피던스, 정격 리플 전류)를 확인할 수 없는 부품은 위와 같은 비교를 할 근거가 없으므로 피합니다.

5단계 · 장착과 마무리 점검

극성을 다시 확인하고 삽입한 뒤 납땜하고, 남은 다리는 짧게 자릅니다. 플럭스 잔여물은 IPA로 닦아냅니다. 통전 전 마지막으로 극성 재확인 + 양극 간 저항 측정으로 단락이 없는지 봅니다. 첫 전원 인가는 가능하면 눈을 가까이 대지 말고, 슬라이닥스나 전류 제한 장치가 있다면 사용하세요.

자주 묻는 질문

하나만 부풀었는데 나머지도 갈아야 하나요?

같은 회로에 있고 연식이 같다면 함께 교체하는 편이 낫습니다. 하나가 죽었다는 건 나머지도 동일한 열 스트레스를 받아왔다는 뜻이라, 한 개만 갈면 머지않아 다시 열게 될 수 있습니다.

용량을 더 큰 걸로 넣으면 성능이 좋아지나요?

아닙니다. 돌입전류가 커져 퓨즈가 끊기거나 전원 IC의 기동 시퀀스가 틀어질 수 있습니다. 오디오 2차측 필터처럼 여유가 있는 자리라면 소폭 상향이 허용되기도 하지만, 기본은 동일 용량입니다.

누액이 묻은 기판은 그냥 닦으면 되나요?

IPA로 닦은 뒤 확대경으로 패턴이 얇아지거나 끊겼는지 확인해야 합니다. 부식이 진행됐다면 해당 구간을 점퍼선으로 이어주고, 노출된 동박에는 솔더 레지스트나 절연 코팅을 덮어 재부식을 막습니다.

정리

전해 커패시터 교체의 핵심은 방전 먼저, 극성 확인, 105℃ Low ESR 동일 용량 이 세 가지입니다. 그리고 부푼 것만 찾지 말고 ESR로 걸러내는 습관을 들이면 같은 자리를 다시 여는 일을 줄일 수 있습니다. 겉으로 티가 안 나는 불량도 있고, 그런 불량은 용량 측정만으로는 놓칠 수 있다는 것을 기억해 두면 됩니다.

후즈대디